Mit diesem Zusatz werden passive Bauelemente ( R / L / C ) und fertige Komponenten wie Ununs und Baluns im HF-Bereich vermessen. Es werden viel bessere Erkenntnisse über passive Bauteile gewonnen, als mit einer RCL-Messbrücke, die ja nur im NF-Bereich arbeitet. Jede Induktivität und jede Kapazität hat einen mehr oder minder großen Widerstand in Serie. Jeder Widerstand hat eine Induktivität in Serie oder Kapazität parallel. Sie bestimmen maßgeblich die Einsatzfähigkeit des Bauteils in einer Schaltung.

besonders interessant sind die frequenzabhängigen Verlustwiderstandswerte der L- und C-Bauteile, also deren parasitären Komponenten, die dazu noch frequenzabhängig sind. Den praktiachen weißen Platinenhalter dazu aus stabilem Stahl, gibt es bei Pollin.

Noch zwei Beispiele: Klassische Drehkos haben Schleifkontakte am Rotor, die altersbedingt hochohmiger werden können und auch je nach Stellung des Rotors unterschiedlich sein können. Mit dem L-Tester wird der R/C-Wert gemessen-

Die Ableitdrossel in einem Strombalun soll nur die statische Ladung des Dipols ableiten und HF-mäßig am besten hochohmig sein, so wie die kleine Ringkerndrossel im Bild hier unten.

Der L-Tester ist ein Messadapter um zweipolige Bauteile, aber auch Baluns und Ununs im HF-Bereich zu messen. Das Messgerät ist wieder ein NanoVNA. Baluns und Ununs benötigen zusätzlich ihre passenenden Abschlusswiderstände um deren Anpassung zu messen. Läßt man sie weg, hat man Totalreflektion an deren Ausgang und der angezeigte LOGMAG-Wert in dB geteilt durch 2 ist die Durchgangsdämpfung S21 der Komponente.

Beispiel: Messung eines 1:4-Ununs mit Poti auf 200 Ohm eingestellt und Anzeige der R/L-Messwerte bei ca.7MHz. Die ca.62nH ist die Streuinduktivität Ls, welche man mit einem Parallel-C kompensieren kann. Die häufig genannten 100pF sind Quatsch/viel zu viel. Den richtigen Wert (er liegt bei 26pF) berechnet das EXCEL-Blatt / gibt es hier: Klick zum Herunterladen

Im Gegensatz zum Ringkerntester, wo zumeist unbewickelte Kerne getestet werden, liefert der L-Tester die komplexen Werte von bewickelten Kernen, aber auch Kondensatoren und Widerständen. So kann man die Güte der Bauteile auf der jeweiligen Messfrequenz bestimmen, einfach aus dem Verhältnis X/R. Am NanoVNA muss im Trace SMITH diese Komponentenanzeige eingeschaltet sein.

Bilder vom L-Tester im Gehäuse

Es gibt nur ein Koaxkabel zum S11-Port des NanoVNA und nur einen zweipoligen Klemmblock. Kalibration mit Short / Load / Open direkt an dem Klemmblock. Somit ist das Koaxkabel mit einbezogen. Die Messebene liegt an der Klemme.

Noch 2 Messbeispiele: ansehen1 KLICK und ansehen2 KLICK

Wird fortgesetzt... im CQDL Heft 01/2024 ist mein Artikel erschienen, Ergänzungen dazu finden sich hier und auf Klick

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Stand der Seite: 02.04.2026

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